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XG605低溫閃點測定儀技術指標與工作原理

更新時間:2025-07-21點擊次數:243

技術指標:


1、檢測范圍:-30℃~100℃或-10℃~100℃或室溫~300℃(可選)


2、測量精度:±4℃


3、分 辨 率:0.1℃


4、制冷方式:半導體制冷(自帶冷水循環)


5、供氣氣源:氣或電可選(默認氣掃火)


6、環境溫度:溫度5℃~30℃


7、環境濕度:≤85%RH(無冷凝)


8、工作電源:AC220V±10%  50Hz±10%


9、整機功耗:≤300W


10、外形尺寸:490mm×520mm×390mm


11、儀器凈重:25.5kg


工作原理:


整機采用智能溫控儀表控制單元,設有加熱、開蓋、控溫及顯示、閃火、過溫保護功能特性。制冷元件采用半導體制冷器件,體積小,自帶水冷卻裝置,制冷速度快。


外圍電路采用固態繼電器等電子器件,杜絕了電氣干擾等問題。按照改進的PID控制的溫度加熱系統,采用高精度溫度轉換模塊,使溫度測試及顯示可靠準確。


以下介紹科創星光自主研發生產的低溫閃點測定儀,儀器特點如下介紹:


XG605低溫閃點測定儀技術指標與工作原理


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